2019年度のお知らせ
- 2020/02/17
- X線光電子分光分析装置 (XPS)の修理が完了し、共用を再開しました。
- 2020/02/10
- X線光電子分光分析装置 (XPS)は制御系の不具合により利用を停止します。復旧までしばらくお待ち下さい。
- 2020/01/10
- 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)は電子銃の不具合により当面の間利用不可となります。
- 2019/12/10
- 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)の共用を12月2日より再開しました。
- 2019/11/08
- テクニカルサポートセンターへの機器登録について
- 2019/10/21
- 走査型オージェ電子分光分析装置(AES)の修理日程について
- 2019/08/19
- 走査型オージェ電子分光分析装置(AES)の不具合について
- 2019/05/08
- 共用設備の名称と分類の変更について
- 2019/05/08
- 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)のメンテナンスを5月10日に実施します。2019年5月13日から利用を再開します。
- 2019/05/08
- X線光電子分光分析装置 (XPS)のメンテナンスを5月7～9日の日程で実施します。2019年5月10日から利用を再開します。
- 2019/04/01
- 4月1日より利用料金が変更となります。正式な料金の決定は5月中旬を予定しています。
2018年度のお知らせ
- 2019/03/28
- 一部設備の共用終了のお知らせ
- 2019/03/26
- ラマン分光分析装置の修理が完了しました。共用を再開します。
- 2019/03/18
- ラマン分光分析装置の修理を3月25日に実施します。
- 2019/02/01
- ラマン分光分析装置の試料ステージに不具合が発生しています．修理完了まで共用を停止します．
- 2018/05/18
- 飛行時間型二次イオン質量分析装置の修理が完了しました。共用を再開します。
- 2018/04/01
- 利用料金を改定しました。詳細はお問い合わせ下さい。
2017年度のお知らせ
- 2018/02/26
- 飛行時間型二次イオン質量分析装置はパルス制御の不具合により共用を一時的に停止します。
- 2017/12/26
- 高性能走査型マイクロプローブX線光電子分光分析装置のメンテナンスを12月26～28日の日程で実施します。2018年1月4日から利用を再開します。
- 2017/12/18
- 高性能走査型マイクロプローブX線光電子分光分析装置のイオン銃フィラメントが断線しています。近日中にイオン銃・中和銃のメンテナンスを実施します。
- 2017/12/18
- 高分解能結晶方位解析装置に付属するS-3400Nの反射電子検出器に不具合が生じています。反射電子像観察の際は管理者まで問合せ下さい。
- 2017/09/07
- 飛行時間型二次イオン質量分析装置のステージ駆動系不良が解消しましたので共用を再開します。
- 2017/08/30
- 飛行時間型二次イオン質量分析装置はステージ駆動系の不具合により共用を一時的に停止します。
- 2017/05/19
- 新しいWebサイトを公開しました
- 2017/04/01
- 「エネルギー分散型X線分析装置付き走査型電子顕微鏡」の共用を終了しました