表面分析設備

走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)

メーカー・型番

アルバック・ファイ PHI 680

主な仕様

低ひずみ速度引張試験機構付属

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設置場所

未来産業技術共同研究館304号室

設置年度

平成13年度(平成25年度に制御PC更新)

X線光電子分光分析装置 (XPS)

メーカー・型番

アルバック・ファイ Quantum 2000

主な仕様

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設置場所

未来産業技術共同研究館304号室

設置年度

平成13年度(平成25年度に制御PC更新)

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS)

メーカー・型番

アルバック・ファイ TRIFT 2

主な仕様

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設置場所

未来産業技術共同研究館304号室

設置年度

平成12年度(平成25年度に制御PC更新)

高周波グロー放電発光分析装置 (GD-OES)

メーカー・型番

堀場製作所 GD-Profiler2

主な仕様

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設置場所

未来産業技術共同研究館304号室

設置年度

平成23年度


テクニカルサポートセンター登録設備

顕微ラマン分光分析装置

メーカー・型番

堀場製作所 LabRAM HR800

主な仕様

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設置場所

未来産業技術共同研究館304号室

設置年度

平成21年度