表面分析設備
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走査型オージェ電子分光分析装置 (AES) |
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メーカー・型番 アルバック・ファイ PHI 680 主な仕様 低ひずみ速度引張試験機構付属 詳細はこちら 設置場所 未来産業技術共同研究館304号室 設置年度 平成13年度(平成25年度に制御PC更新) |
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X線光電子分光分析装置 (XPS) |
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メーカー・型番 アルバック・ファイ Quantum 2000 主な仕様 詳細はこちら 設置場所 未来産業技術共同研究館304号室 設置年度 平成13年度(平成25年度に制御PC更新) |
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飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) |
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メーカー・型番 アルバック・ファイ TRIFT 2 主な仕様 詳細はこちら 設置場所 未来産業技術共同研究館304号室 設置年度 平成12年度(平成25年度に制御PC更新) |
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高周波グロー放電発光分析装置 (GD-OES) |
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メーカー・型番 堀場製作所 GD-Profiler2 主な仕様 詳細はこちら 設置場所 未来産業技術共同研究館304号室 設置年度 平成23年度 ※テクニカルサポートセンター登録設備 |
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顕微ラマン分光分析装置 |
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メーカー・型番 堀場製作所 LabRAM HR800 主な仕様 詳細はこちら 設置場所 未来産業技術共同研究館304号室 設置年度 平成21年度 |
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